问题描述：
[单选]
在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。
A．0．001mm
B．0．002mm
C．0．003mm
参考答案：查看无
答案解析：无
☆收藏
答案解析：无
☆收藏
- 我要回答: 网友(3.133.155.253)
- 热门题目: 1.不论数显卡尺还是游标卡尺，其 2.一台泵入口压力为-0.02M 3.简述测微量具的工作原理是什么