问题描述：
[单选]
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
A．测定斜探头K值
B．测定直探头盲区范围
C．测定斜探头分辨力
D．以上全是
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