问题描述:
[单选]
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()
A.测定斜探头K值
B.测定直探头盲区范围
C.测定斜探头分辨力
D.以上全是
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