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问题描述：

[填空] 用于测量电路电流的仪表称为（），或叫安培表。
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探测面光洁度分别△槴2樣和△槴1樣的两个试块中，具有直径、取向、距离都相同的横通孔，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度：（）
在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷，则该缺陷的当量：（）
用三个平底孔试块制作距离──幅度校正曲线时，有时得到最靠近探头的孔的回波高度低于其它一个或两个孔回波，这可能是由于：（）
对一个缺陷回波用对比试块中的平底孔作高度比较，其中一个试块的深度与缺陷深度相同，直径为4mm的平底孔回波高度等于缺陷回波，则缺陷当量的大小相当于：（）
任何一种超声波探伤方法中，正确地解释和评价缺陷回波都是很重要的，通常使用的评价缺陷尺寸的方法有：（）
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