当前位置:百科知识 > 综合计量工考试

问题描述:

[单选] 在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。
A.0.001mm B.0.002mm C.0.003mm
参考答案:查看
答案解析:
☆收藏

随机题目