问题描述：
[单选]
假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1，缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：
A．50%
B．0%
C．37%
D．10%
参考答案：查看无
答案解析：无
☆收藏
答案解析：无
☆收藏
- 我要回答: 网友(216.73.216.96)
- 热门题目: 1.双周检作业时，检查闸瓦磨耗情 2.开口销按标准劈开，劈开角度不 3.闸瓦钎开口销安装正确角度＞（