问题描述：
[单选]
假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1，缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：
A．50%
B．0%
C．37%
D．10%
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