问题描述：
[单选]
半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）
A．可靠性测定试
B．可靠性鉴定试验
C．可靠性验收实验
D．环境应力筛选试验
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