问题描述：
[单选]
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
A．球面干涉
B．等倾干涉
C．等厚干涉
参考答案：查看无
答案解析：无
☆收藏
答案解析：无
☆收藏
- 我要回答: 网友(216.73.216.49)
- 热门题目: 1.使用外部搅拌器进行循环，使用 2.为何要对计量器具进行周期检定 3.要测定汽油、煤油、柴油等轻质