问题描述：
[单选]
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
A．近场干扰
B．材质衰减
C．盲区
D．折射
参考答案：查看无
答案解析：无
☆收藏
答案解析：无
☆收藏
- 我要回答: 网友(216.73.216.136)
- 热门题目: 1.涡流检测中，经过磁饱和的试件 2.检查管材表面小缺陷，以（）式 3.涡流探伤灵敏度在很大程度上取