问题描述：
[单选]
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
A．近场干扰
B．材质衰减
C．盲区
D．折射
参考答案：查看无
答案解析：无
☆收藏
答案解析：无
☆收藏
- 我要回答: 网友(3.15.208.109)
- 热门题目: 1.无损检验的结果若有不合格时， 2.简述《火力发电厂焊接技术规程 3.（）是铁与碳形成的化合物。