问题描述:
[单选]
在MIS结构的金属栅极和半导体上加一变化的电压,在栅极电压由负值增加到足够大的正值的的过程中,如半导体为P型,则在半导体的接触面上依次出现的状态为()。
A.少数载流子反型状态,多数载流子耗尽状态,多数载流子堆积状态
B.多数载流子堆积状态,多数载流子耗尽状态,少数载流子反型状态
C.多数载流子耗尽状态,多数载流子堆积状态,少数载流子反型状态
D.少数载流子反型状态,多数载流子堆积状态,多数载流子耗尽状态
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