问题描述：
[单选]
在MIS结构的金属栅极和半导体上加一变化的电压，在栅极电压由负值增加到足够大的正值的的过程中，如半导体为P型，则在半导体的接触面上依次出现的状态为（）。
A．少数载流子反型状态，多数载流子耗尽状态，多数载流子堆积状态
B．多数载流子堆积状态，多数载流子耗尽状态，少数载流子反型状态
C．多数载流子耗尽状态，多数载流子堆积状态，少数载流子反型状态
D．少数载流子反型状态，多数载流子堆积状态，多数载流子耗尽状态
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